技术发展现状 / 收益 | Techvalley Co., Ltd.


技术发展现状

Techvalley 公司的历史既是韩国工业用 X-ray 检测设备的历史。

  • 2020在线自动CT系统

    基于世界一流的CT技术,我们开发了可用于流水线的在线CT。 配备人工智能软件,可以实现高检查精度和快速检查,并且易于使用可以提高用户的生产效率和满意度。
  • 2019自动X射线点料机升级

    2013年,开发了世界上第一个自动X射线电料机,可以同时检测4盘料,还开发了可以检测各种尺寸的芯片和各种包装材料,例如JEDEC托盘和管装料。
  • 2018双X射线管的自动检测系统

    我们已经开发了双X射线管的自动检测系统,该系统可以通过安装双射线管从多个角度检测所需样品的缺陷,并且一次输入一个样品就可以检测两次。
  • 2017线路自动X线检查系统的优化

    2016年,我们开发了自动在线X射线设备,允许重叠检查,并开发了多种性能和尺寸的设备,并实现了优化,以便根据不同用户样本进行检查。
  • 2016研发出在线X-Ray自动检测设备(2.5D)

    HAWKEYE9030 AXI/2.5D 是我们从2016年开始自主技术研发的X-ray自动检测设备. 目的缺陷, 不仅可以检测 双方安装板, 还可以检测双面安装板的复制图像. 在线 X-ray自动检测设备的升级版本, 适合检测双面板重叠SMD.
  • 2015 研发出国内首个便携式XRF设备

    国内首次研发成功到目前一直靠进口的XRF(X-ray Flourescence; X射线荧光装置)。通过韩国标准化科学研究院的RoHS标准样品,成功实现了系统最佳化。
  • 2014研发出在线X-Ray自动检测设备

    成功研发出将重叠的检测图像通过特殊过滤手段分析的检测设备。进入德国产品掌握的全球市场。在越南SMT生产车间安装设备,到目前为止运行良好,获得了高度认可。
  • 2013研发出世界首个X-ray Chip Counter设备

    世界上最早利用X-ray研发的 “Chip Counter”完美消除了传统转动式芯片计数器的缺点。从180mm的小盘物料到380mm的大盘物料自动检查只需要20秒的时间。
  • 2012研发出国内首个X-ray小角散射设备(SAXS)

    国内首个SAXS system能从样品获得粒子大小、大小分布、形态、排列分布等信息。特别是在纳米结构物质的分析上使用特定的工具可不破坏结构评估分析。
  • 2011研发出国内首个X-ray衍射分析设备(XRD)

    不仅能测量粉末,还能测量单晶结构分析的XRD设备,虽然至今还在依靠进口,但本公司从2009年开始研发至今已成功研发出了设备。
  • 2011研发出国内首个内部检测用X-ray CT系统

    构建国内首个以CT技术为基础的三维检测技术,确保品质分析及可靠性的认证系统。
  • 2010研发出国内首个地质分析用X-ray系统

    作为国内首个对地质样品的尖端CT分析设备,可探测东海的天然气、石油等。在2010年安装在了韩国大田地质资源研究院。 
  • 2007研发出国内首个钢管焊接检测用X-ray自动检测系统

    国内首个1分钟内自动检测出12米钢管。不仅能解读出不良部位,而且研发出了建立完善数据库的品质管理系统。
  • 2006研发出国内首个工业用X-ray CT系统

    2006年研发出国内首个Corn-Beam方式的CT,并安装在了首尔产业大学、三星技术园、LG化学dp等地方。
  • 2005研发出国内首个高电压一体型X-ray发生装置(160kV级)

    即2004年后仅一年时间成功的研发出110KV,160KV的高电压一体型X-ray发生装置,使用在汽车配件检测设备上,至今与海外设备厂商竞争。
  • 2004研发出国内首个X-ray发生装置(80kV级)

    研发出国内首个80KV级X-ray发生装置后使用在我们公司的设备上。而2004年被记录为X-ray相关配件国产化元年,并为以后的国产化增加了助力。
  • 2003研发出世界首个PCB 矫正孔自动检测用数字X-ray系统

    TVX-IP805在PCB市场上获得了人气后与三星电子共同研发出了PCB矫正孔自动检测用X-ray系统,并与三星申请了共同专利
  • 2002研发出国内首个PCB孔偏心检测用数字X-ray系统

    应本来依靠进口PCB孔偏心检测设备的㈜거양公司的要求成功实现了国产化,并名副其实的在国内成为了最畅销的产品。
  • 2001研发出国内首个文物分析用数字 X-ray系统

    在这之前我们国家的文物分析一直使用日本的X-ray检测设备,应国立中央博物馆的邀请研发出了国内最早的文物分析专用X-ray设备。
  • 2000研发出国内首个电子元件检测用 Micro-focus X-ray 系统

    因电子元件的体积小重量轻,需要100倍,200倍以上高倍率放大检测,所以研发出了Micro-Focus X-ray检测设备。
  • 1997研发出世界首个便携式数字X-ray透视设备。

    使用电池供电方式的便携式数字X-ray透视设备在大韩民国专利技术大赛上获得了银奖,在技术上获得了国际发明展示会的最高奖项。 

竞争力

我们提供最好的技术和丰富的现场经验的最佳解决方案

收益

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